欧州委員会ガイダンス 第8版（2025年4月） ／ 附属書
Annex 3 整合規格が存在しない又は完全に適用されていない場合のEMC評価
Annex 3 — EMC assessment where harmonised standards do not exist or are not fully (applied)
欧州委員会が公表する公式ガイダンス第8版（2025年4月）の参考訳です。ガイドは法的拘束力を持たず、疑義がある場合は英語版が基準となります。色付きの枠は指令本文の引用、それ以外が欧州委員会の解説です。
EMCDは、実施すべき関連する評価を決定するため、装置及びそれが動作する環境に関連する妨害及びEMC現象を特定することを求めている。
The EMCD requires the identification of the relevant disturbances and EMC phenomena for the apparatus and the environments where it operates in order to determine the relevant assessment to be performed.
EMCDは周波数範囲を特定していないが、0 Hzから400 GHzまでの周波数範囲をEMC評価に含めて考慮することが一般的な慣行である。これは、一定の現象は周波数範囲が限られている（例えば高周波伝導エミッションについては、
Although the EMCD does not specify a frequency range, it is general practice to take account of the range of frequency encompassed in the EMC assessment from 0 Hz to 400 GHz. This does not mean there is a need to apply a full assessment within this range as certain phenomena are limited in frequency range (e.g. for conducted high frequency emission:
考慮すべき周波数範囲は通常9 kHzから30 MHzである。）ことから、この範囲内で完全な評価を適用する必要があることを意味するものではない。一部の装置については、電磁現象は、装置の構造原理又は物理的性質により、本質的に周波数範囲が限られている。
the frequency range to take into account is usually 9 kHz to 30 MHz). For some apparatus, electromagnetic phenomena are inherently limited in frequency range by the principle of construction or the physical nature of the apparatus.
評価において適用する周波数範囲は、装置の性質及びその意図された使用によって異なる。ただし、評価すべき現象と組み合わせて、関連する周波数範囲が網羅されていることを（例えば無線通信製品の一般的な使用を考慮して）確認することが重要である。
The frequency range to be applied in the assessment depends on the nature of the apparatus and its intended use. However it is important to make sure that the relevant frequency range has been covered (e.g. taking into account the common use of radiocommunication products) in combination with the phenomena to be assessed.
評価すべき現象の選択は、装置が使用される環境によって異なる。
The selection of phenomena to be assessed depends on the environment where the apparatus is being used.
電磁両立性の技術は長い期間をかけて発展してきたものであり、かなり複雑な主題である。無線スペクトルの使用は絶えず変化しており、妨害に対する異なる保護を必要としうる新たなRF技術が適用されている。低周波現象についても同様の状況が生じうる。電磁イミュニティの分野においても、イミュニティの問題を生じさせうる発生源は絶えず変化している。
The technology of electromagnetic compatibility has developed over a long period of time and is a fairly complex subject. The use of the radio spectrum is subject to constant changes, applying new RF technologies that may require a different protection against disturbances. An identical situation may occur for low frequency phenomena. In the field of electromagnetic immunity the sources that may create immunity problems are also constantly changing.
実際には、装置が、装置の特性として規定されたものを上回る厳しさの妨害レベルにさらされる確率はゼロではない。他方、あらゆる状況において100%の性能を目指すことは現実的ではなく、すなわちイミュニティについては、一定の装置にとって一時的な性能低下が許容されうる。
There exists a finite probability that the apparatus in practice will experience disturbance levels the severity of which is above those specified as characteristic of the apparatus. On the other hand it is not feasible to aim for 100 % performance in all situations, i.e. for immunity, temporary degradation in performance may be acceptable for certain apparatus.
エミッションについては、例えば非常に影響を受けやすい装置が近くで使用される場合など、個々の装置について電磁エミッションを規定のレベルよりさらに低減するために追加の軽減措置を講じなければならない特別な場合がありうる。
For emissions there may be special cases, for instance when highly susceptible apparatus is being used in proximity, where additional mitigation measures may have to be employed for individual apparatus to reduce the electromagnetic emission further below any specified levels.
この問題は、評価の際に考慮することができる。
This issue may be taken into account during the assessment.
より高い周波数で動作するより小型のデバイスへの傾向に伴い、電磁両立性の問題が悪化しうることに留意すべきである。より高速のスイッチング論理はエミッションを増大させ、
One should be aware that the problem of electromagnetic compatibility may become worse with the trend towards smaller devices operating at higher frequencies. Higher speed switching logic increases emissions
回路がより密に実装された低い動作電圧及び電流はイミュニティを低下させる。さらに、装置内で作用する干渉源の数、性質及び相互作用が異なるため、装置からの放射のメカニズムは複雑である。
while low operating voltages and currents, with circuits packaged more closely together, decreases immunity. Furthermore the mechanisms for radiation from apparatus are complex due to the different number, nature and interaction of interference sources that are active within the apparatus.
EMCは、0 Hzから400 GHzまでの全周波数範囲にわたる伝導現象及び放射現象を対象とし、次の非網羅的な例の一覧に示すような多くの異なる現象に関係しうる。一般に、対象とすべき三つの主要な側面は次のとおりである。
EMC covers conducted and radiated phenomena over the whole frequency range from 0 Hz to 400 GHz and may relate to many different phenomena such as given in the following non-exhaustive list of examples. Generally the three main aspects to be covered are:
(a) 低圧公共配電系統に直接接続することを意図したすべての装置について、電源における低周波エミッション（高調波、電圧変動）
(a) Low-frequency emission on the mains supply (harmonics, voltage fluctuations) for all apparatus intended to be connected directly to low- voltage public distribution systems.
(b) 高周波エミッションの側面
(b) High frequency emission aspects.
(c) イミュニティの側面
(c) Immunity aspects.
詳細な技術的EMC評価においては、ある現象が評価対象の装置に関連しないことを正当化できない限り、一覧の現象を考慮する必要がある。場合によっては、例の一覧に掲げられていない現象を考慮する必要があることもある。
For the detailed technical EMC assessment the phenomena in the list need to be considered, unless it can be justified that a phenomenon is not relevant for the apparatus to be assessed. It may also be necessary in some cases to consider a phenomenon that is not listed in the list of examples.
| 伝導低周波現象Conducted low frequency phenomena | （未翻訳） |
| エミッションEmission | イミュニティImmunity |
| 低圧公共配電系統に直接接続することを意図した装置が電源に発生させるおそれのある高調波及び電圧変動Harmonics and voltage fluctuations likely to be produced on the mains supply by apparatus intended to be directly connected to the low-voltage public power distribution system. | a) 電源における高調波、次数間高調波 この現象は、交流（AC）電源電圧の正確なゼロクロスのタイミング又は特定の高調波成分に敏感な装置に関連しうる。b) 電力線に重畳された信号 漏電遮断器など、低い感度レベルで動作する装置に関連しうる。c) 電源における電圧変動 一般に、電圧変動の振幅は10%を超えない。したがって、ほとんどの装置は通常、電圧変動により妨害を受けない。ただし、この現象はa) harmonics, interharmonics on the mains supply This phenomenon may be relevant to apparatus sensitive to precise zero crossing in time on the AC (Alternating Current) mains voltage or to specific harmonic components. b) signals superimposed on power lines; May be relevant for apparatus operating at low level of sensitivity such as residual current operated protection devices. c) voltage fluctuations on the mains supply In general, voltage fluctuations have an amplitude not exceeding 10 %; therefore, most apparatus are normally not disturbed by voltage fluctuations. However, this phenomenon may be |
| （未翻訳） | 電源の変動がより大きい場所に設置することを意図した装置に関連しうる。d) 電源における電圧ディップ及び瞬時停電 一般にすべての種類の装置について考慮すべきである。装置の原理上、そのような現象に対する特別な感受性を必要とし又は伴う場合には、これを使用者向け文書に記載すべきである。e) 電圧不平衡 三相装置の特別な場合にのみ適用される。f) 電源の電力周波数の変動 電力周波数の変動が大きい場所に設置することを意図した装置（例えば非常用電源に接続される装置）に適用されうる。g) 誘導低周波電圧 感度の高い低レベル計測器の場合。h) 交流系統における直流（DC）成分 漏電遮断器などの特別な場合。relevant for apparatus intended to be installed at locations where the mains have larger fluctuations. d) voltage dips and interruptions on the mains supply To be considered generally for all types of apparatus. If the principle of the apparatus requires or involves a particular sensitivity to such phenomena, this should be indicated in the user documentation. e) voltage unbalance; Only applicable in special cases for three phase apparatus f) power frequency variations of the mains supply This may apply to apparatus intended to be installed at locations where the power frequency has large variations (for example apparatus connected to an emergency power supply). g) induced low frequency voltages For sensitive low level measuring instruments; h) DC (Direct Current) component in AC networks. For special cases as residual current circuit breakers |
| 放射低周波界現象Radiated low-frequency field phenomena | （未翻訳） |
| エミッションEmission | イミュニティImmunity |
| 一般に関連しないGenerally not relevant | a) 磁界 1) 連続的なもの、2) 過渡的なもの 一般に、磁界の影響を受けやすい装置（例えばホール効果デバイス、CRTa) magnetic fields 1) continuous; 2) transient; In general only relevant for apparatus which are susceptible to magnetic fields (for example Hall effect devices, CRT |
| （未翻訳） | 及び強磁界環境に設置される特殊な装置）にのみ関連する。装置が弱磁界環境での使用を意図している場合には、この特性を使用者向け文書に記載すべきである。b) 電界 測定における特殊な用途にのみ関連する。and special apparatus to be installed in high magnetic field environments). If apparatus is intended for use in a low magnetic field environment, this characteristic should be indicated in the user documentation. b) electric fields. Relevant only for special applications in measurements |
| 伝導高周波現象Conducted high-frequency phenomena | （未翻訳） |
| エミッションEmission | イミュニティImmunity |
| 一般に、ほとんどの電子装置及び多くの電気装置に関連する。高周波妨害を発生させるおそれのある発生源を含まない装置については例外がありうる。a) 誘導電圧又は電流 1) 連続波、2) 変調波、3) 不連続波 伝導妨害の評価方法には、電圧として評価する方法と電流として評価する方法の二つがある。いずれの方法も、三種類の伝導妨害、すなわち – コモンモード（非対称モードともいう。） – ディファレンシャルモード（対称モードともいう。） – 不平衡モード（特定の擬似回路網を用いて両モードを組み合わせたもの）の評価に用いることができる。注記 不平衡モード電圧は主に電源系統で測定される。コモンモード電圧（又は電流）は主に信号線及び制御線について測定される。Generally relevant for most electronic and for many electrical apparatus. Exceptions may occur for apparatus which do not contain any source likely to generate high frequency disturbances. a) induced voltages or currents 1) continuous waves; 2) modulated waves; 3) discontinuous waves There are two methods of assessing conducted disturbances, either as a voltage or as a current. Both methods can be used to assess the three types of conducted disturbances, i.e.: – common mode (also called asymmetrical mode) – differential mode (also called symmetrical mode) – unsymmetrical mode (combines both modes by using specific artificial test networks) NOTE the unsymmetrical mode voltage is primarily measured at the mains network. The common mode voltage (or current) is measured primarily for signal and control lines. | a) 誘導電圧又は電流 1) 連続波、2) 変調波、b) 単方向性過渡現象、c) 振動性過渡現象。誘導高周波電圧又は電流は、最も単純なものを除き、一般に電子装置に関連する。一般に、電源に接続される装置、又は電源のすぐ近くにケーブル（信号又は制御）を有する装置については、ファストトランジェントの側面を評価すべきである。サージの側面は、建物外に出るネットワーク又は電源一般に接続される装置について評価すべきである。a) induced voltages or currents 1) continuous waves; 2) modulated waves; b) unidirectional transients; c) oscillatory transients. Induced high frequency voltages or currents are generally relevant for electronic apparatus, except the simplest ones. In general, fast transient aspects should be assessed for apparatus which are connected to mains or have cables (signal or control) in close proximity to mains. The surge aspects should be assessed for apparatus which are connected to networks leaving the building or mains in general. |
| 次の種類の妨害を考慮すべきである。a) 狭帯域連続妨害、b) 広帯域連続妨害、及び c) 広帯域不連続妨害Account should be taken of the following types of disturbance: a) narrowband continuous disturbance, b) broadband continuous disturbance; and c) broadband discontinuous disturbance | （未翻訳） |
| 放射高周波界現象Radiated high-frequency field phenomena | （未翻訳） |
| エミッションEmission | イミュニティImmunity |
| a) 磁界、b) 電界、c) 電磁界 1) 連続波、2) 変調波、3) 過渡現象。一般に、ほとんどの電子装置及び多くの電気装置に関連する。高周波妨害を発生させるおそれのある発生源を含まない装置については例外がありうる。一般に、磁界は30 MHzまで、電磁界は30 MHzを超え6000 MHzまでが考慮される。a) magnetic fields; b) electric fields; c) electromagnetic fields 1) continuous waves; 2) modulated waves; 3) transients. Generally relevant for most electronic and for many electrical apparatus. Exceptions may occur for apparatus which do not contain any source likely to generate high frequency disturbances. Generally magnetic fields are considered up to 30MHz and electromagnetic fields above 30MHz up to 6000MHz. | a) 磁界、b) 電界、c) 電磁界 1) 連続波、2) 変調波、3) 過渡現象。一般に、電磁界に対する放射イミュニティはすべての装置に関連する。除外には電子的でない装置が含まれうる。パルス磁界。この試験は主に、電気施設に設置される装置（例えば開閉装置のすぐ近くにある遠隔制御センター）に適用される。a) magnetic fields; b) electric fields; c) electromagnetic fields 1) continuous waves; 2) modulated waves; 3) transients. In general, the radiated immunity to electromagnetic fields is relevant to all apparatus. Exclusions may include non- electronic apparatus. Pulse magnetic fields. This test is mainly applicable to apparatus to be installed in electrical plants (for example telecontrol centres in close proximity to switchgear). |
| 静電気放電現象（ESD）Electrostatic discharge phenomena (ESD) | （未翻訳） |
| （未翻訳） | イミュニティImmunity |
一般に、静電気放電の側面は、静電気放電が発生しうる環境で使用されるすべての装置に適用される。直接放電及び間接放電を考慮すべきである。
In general, electrostatic discharge aspects are applicable to all apparatus to be used in an environment where electrostatic discharges may occur. Direct and indirect discharges should be taken into account.
除外には、高湿度環境又はESD管理された環境条件での使用に限定された装置、及び電子的でない装置が含まれうる。
Exclusions may include apparatus limited for use in high humidity environments or in ESD-controlled environmental conditions and non-electronic apparatus.